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產(chǎn)品分類技術(shù)文章/ article
在半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)中，晶圓作為集成電路的載體，其制造與檢測環(huán)節(jié)的精確性與可靠性直接決定了最終芯片的性能與良率。這一過程對觀測和測量技術(shù)提出了極的高要求，而其中，照明光...
特征國內(nèi)開發(fā)、國內(nèi)制造、國內(nèi)校準獲得日本國內(nèi)防爆（TIIS）認證。-100至+20°Cdp露點測量范圍精度±2℃dp高響應(yīng)速度有競爭力的定價體系可在0區(qū)使用完善的支持體系可追溯至國家標準主要用途石化過程可燃氣體、氮氣、氫氣、甲...
特征日本開發(fā)、日本制造、日本國內(nèi)校準-100至+20℃dp露點測量范圍精度±2℃dp高響應(yīng)速度有競爭力的定價體系交貨快捷完善的支持體系可追溯至國家標準主要用途手套箱中的露點控制干燥機露點檢查熱處理爐內(nèi)氣氛控制潔凈室和干燥室的露...
產(chǎn)品特點/功能手持式方塊電阻測量儀，方便攜帶和測量可與兩種類型探頭（無損型和接觸型）互換使用的手持式方塊電阻測量裝置。只需放置/應(yīng)用探頭即可自動測量電池連續(xù)工作時間：24小時（*使用電池時）顯示數(shù)據(jù)數(shù)：最多100條（*從最新數(shù)據(jù)開始顯示）保...
產(chǎn)品特點及功能只需觸摸手持式探頭即可測量電阻在電阻率和方塊電阻測量模式之間輕松切換通過JOG旋鈕進行簡單的測量條件設(shè)置可更換連接器連接的電阻測量探頭以支持寬范圍的電阻（電阻探頭：最多可使用2+PN確定探頭）測量對象半導(dǎo)體及太陽能電池材料（硅...
產(chǎn)品特點/功能只需將樣品插入探頭之間即可測量的簡單測量儀器在電阻率和方塊電阻測量模式之間輕松切換通過JOG旋鈕進行簡單的測量條件設(shè)置測量目標半導(dǎo)體及太陽能電池材料（硅、多晶硅、SiC等）新材料/功能材料（碳納米管、DLC、石墨烯、銀納米線等...
白度是描述物體表面反射光線中白色成分相對比例的指標，廣泛應(yīng)用于各個行業(yè)中。白度分光光度計是一種常用的儀器設(shè)備，用于測量和評估物體的白度。本文將介紹白度光度計在多個行業(yè)中的廣泛應(yīng)用，展示其在不同領(lǐng)域中的重要性和作用。1、紡織工業(yè)：白度分光光度...
產(chǎn)品特點/功能測量測試儀（RT-70V）和測量臺的組合使用JOG旋鈕輕松操作?厚度、溫度、PN輸入（RT-70V測試儀）自檢功能、自動測量范圍切換、4種測量模式具有厚度和溫度校正功能（適用于硅）測量規(guī)格測量目標半導(dǎo)體及太陽能電池材料（硅、多...
產(chǎn)品特點/功能Napson的4探頭測量系統(tǒng)采用盒式（*部分為Jandel原創(chuàng)類型）。我們還為其他公司的設(shè)備提供6針連接器類型和小型模塊類型。(1)墨盒類型（Napson原裝）[第1張產(chǎn)品圖片](2)Jandel原裝類型[第2張產(chǎn)品圖片]Ja...
作用控制光的擴散并實現(xiàn)更高分辨率的視覺檢查的模型。?符合日本光學玻璃工業(yè)協(xié)會標準?檢查目的的光學系統(tǒng)?超過15年的鏡頭和玻璃檢查經(jīng)驗?可檢查最大20微米劃痕的缺陷。中心照度（1000mm距離）250勒克斯檢查方法直視型投影式反射投影模型OP...
應(yīng)用實例激光剝離（WLP、PLP等）柔性材料微加工（PI、銅等）微通孔鉆孔光纖布拉格光柵高功率紫外激光振蕩器：外殼緊湊，高輸出紫外激光器，輸出功率15W以上。更長的晶體壽命有助于降低運行成本。可作為包括光學設(shè)備和控制軟件的激光系統(tǒng)提供。高功...
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